為了減少測量誤差，固緯LCR測試儀具有若干校正功能。校正值根據(jù)頻率和阻抗的量程不同會有所不同，所以進(jìn)行全范圍的校正要花費(fèi)很多時(shí)間。

　　

　　這里，對零點(diǎn)校正和負(fù)荷校正進(jìn)行解說。

　　

　　零點(diǎn)校正：當(dāng)LCR測試儀的零點(diǎn)漂移對于測量值不能忽略時(shí)，就需要進(jìn)行零點(diǎn)校正。因?yàn)榱泓c(diǎn)漂移會隨著電纜和電極的物理配置不同而變化，所以進(jìn)行開路和閉路的零點(diǎn)校正時(shí)，必須與連接零部件時(shí)的電纜布線、電極間隔等相同。

　　

　　負(fù)荷校正：除了測量夾具等不同所引起的零點(diǎn)漂移以外，如果還有不能夠忽略的測量誤差，那么可以進(jìn)行負(fù)荷校正，以提高測量度。即使對于沒有負(fù)荷校正功能的LCR測試儀，也能夠?qū)Ω鱾€(gè)阻抗量程和頻率求取校正系數(shù)，自己進(jìn)行校正。

　　

　　為了進(jìn)行負(fù)荷校正，首先需要準(zhǔn)備好標(biāo)準(zhǔn)器具或者已知準(zhǔn)確值的零部件。在進(jìn)行了零點(diǎn)校正之后，再測量已知準(zhǔn)確值的標(biāo)準(zhǔn)阻抗Zstd，如果得到的測量值為Zms，那么就按照以下公式來求出校正系數(shù)。

　　

　　固緯LCR測試儀使用注意事項(xiàng)

　　

　　1．選擇正確的測試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測量條件下能達(dá)到的性能，以及允許出現(xiàn)的偏差值。

　　

　　我們可以看到在不同的測試頻率下，電容的參數(shù)出現(xiàn)非線性的變化，所以我們對于測量某元器件時(shí)候，一定要選擇合適的測量頻率以及測量電壓，另外對于某些器件可能還需要設(shè)置偏置電壓等測試條件。對于需要觀測器件的頻率特性，固緯LCR測試儀具有頻率掃描測量模式，能直觀的觀測不同頻率情況下器件的參數(shù)變化，這點(diǎn)對于研發(fā)測試中能給工程師帶來便利。

　　

　　2．選擇合適測量治具。測量治具也是固緯LCR測試儀的重要組成部分，對于封裝方式多樣化的元器件，LCR也有多種測量治具選擇。以下為固緯LCR測試治具以及測量范圍。合適的測量治具不僅帶來測量的便捷，更是測量準(zhǔn)確性的保證。

　　

　　3．正確的零點(diǎn)校正。固緯LCR測試儀的零點(diǎn)漂移會隨著測試條件的變換或者是測試治具的不同而產(chǎn)生改變，所以開路以及短路的零點(diǎn)校正非常必要。所以LCR測試儀都有開路和短路校正的設(shè)置。